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            行業資訊

            •    掃描電鏡SEM的基本操作   要獲得一張清晰的電鏡照片,必須要能夠做好*基本的電鏡操作、以及針對各種樣品做出工作條件的優化。   基本操作包括熟練的調節對焦和消像散。對焦相對容易,改變焦距,直至圖像*清楚的時刻即為合焦。在偏離焦距較多的時候可以用較高的靈敏度,在合焦點附近調低靈敏度,以便進行精確對焦。   基本操作中消像散相對來說比較麻詳細>>
            •  蔡司Xradia Ultra系列納米級X射線顯微鏡(納米CT)作為成熟的商業化納米三維成像技術產品,利用來源于同步輻射X射線光學成像技術,可實現優于50 nm分辨率的無損納米級成像,并提供吸收和相位襯度兩種模式。 該技術可兼顧輕元素軟材料和各種中高密度的硬材料成像,為電池材料,高分子材料,復合材料,金屬材料,油氣領域和生命科學等研究提供了數十納詳細>>
            •    普通教育看高考,職業教育看比賽。對于職業教育師生而言,各類職業教育創新創業比賽、技能大賽是推動職業教育發展的重要動力。此次“雙創”比賽中,蔡司工業質量解決方案更是全情投入,在硬件和軟件兩方面成為賽事承辦方。在硬件上,蔡司為大賽贊助20臺蔡司三維掃描儀-Scan 1 ,讓賽事的硬件設置水平達到國際水準。 蔡司三維掃描儀   多年來,蔡詳細>>
            •    在蔡司掃描電鏡原位實驗平臺中自動追蹤到的不銹鋼樣品在力學拉伸過程中微觀組織的變化。   當您在運用基于掃描電鏡的拉伸/加熱裝置來實現材料原位表征時:   ➢ 是否經常在不同電腦上操作電鏡,設置原位臺參數,以及控制EDS/EBSD探測器等一系列工作中疲于奔命?   ➢ 同時又因為這些裝置協作不好而難以獲詳細>>
            •    德國埃爾朗根-紐倫堡大學ErdmannSpiecker教授及其同事近日展示了一種電鏡新玩法。他們通過在掃描電鏡(SEM)及透射電鏡(TEM)裝置中加入壓電臂,實現了原位清潔石墨烯薄膜表面,其潔凈程度達原子級別。此外,作者們在潔凈石墨烯表面上利用特定表面吸附物生長了石墨烯。   石墨烯的清洗利用了灰塵與石墨烯表面作用力微弱的特點,其清潔過程如詳細>>
            •    01多重熒光標記的大組織樣品如何做到快速、精確的信號拆分?   由于研究細胞生物學和組織的異質性,多重熒光標記往往帶來光譜重疊從而導致串色的可能。Rios博士團隊尋求到一種快速高效的成像策略——配備32通道光譜檢測器的蔡司激光共聚焦顯微鏡(點擊查看),以便及時對大組織、多標記樣品進行光譜拆分和成像。   首先Rios博士團隊從詳細>>
            •    接上:掃描電子顯微鏡的46個知識點(下)    35. 樣品電流(Specimen Current):電子束射到樣品上時,一部份產生二次電子及背向散射電子,另一部份則留在樣品里,當樣品接地時即產生樣品電流。   36. 電子偵測器有兩種,一種是閃爍計數器偵測器(Scintillator),常用于偵測能量較低的二次電子,另一種是詳細>>
            •    接上:掃描電子顯微鏡的46個知識點(中)    22. 面像差為物鏡中主要缺陷,不易校正,因偏離透鏡光軸之電子束偏折較大,其成像點較沿軸電子束成像之高斯成像平面(Gauss image plane)距透鏡為近。   23. 散光像差由透鏡磁場不對稱而來,使電子束在二互相垂直平面之聚焦落在不同點上。散光像差一般用散光像差補償器詳細>>
            •    接上篇:掃描電子顯微鏡46個知識點(上) 13. 要從極細的鎢針尖場發射電子,金屬表面必需完全干凈,無任何外來材料的原子或分子在其表面,即使只有一個外來原子落在表面亦會降低電子的場發射,所以場發射電子槍必需保持超高真空度,來防止鎢陰極表面累積原子。由于超高真空設備價格極為高昂,所以一般除非需要高分辨率SEM掃描電鏡,否則較少采用場發射電子詳細>>
            •    1. 光學顯微鏡以可見光為介質,電子顯微鏡以電子束為介質,由于電子束波長遠較可見光小,故電子顯微鏡分辨率遠比光學顯微鏡高。光學顯微鏡放大倍率最高只有約1500倍,掃描式顯微鏡可放大到10000倍以上。 蔡司掃描電鏡   2. 根據de Broglie波動理論,電子的波長僅與加速電壓有關:λe=h / mv= h / (2qmV)1/詳細>>
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