獨特的蔡司三坐標測量技術:主動式掃描測量

 　　獨特的蔡司三坐標測量技術:主動式掃描測量

　　大多數掃描系統為被動式設計。其測力由一個彈性平行四邊形生成。由于被動探頭的控制范圍小，不斷變化的測力會對它們造成不同的影響，從而導致測針發生較大的彎曲并導致大的探測誤差。這樣當輪廓曲率增大時，精度就會降低。相反地，蔡司采用主動掃描探頭一也是*一家提供主動探頭的制造商。例如蔡司的VASTXTgold探頭連續測量測針撓度。主動在材料的法線方向施加一個恒定低電子測力。例如，測針沿橋架加速的方向移動。從而排除了測力的影響。由于可以保持極小的恒定測力，則使測量結果更加*。捕獲未知的輪廓。

　　與被動掃描探頭不同，蔡司三坐標主動掃描可用于測量未知輪廓。同時在掃描前不需要將輪廓進行數字化。因此，主動掃描也允許逆向操作。

　　用*細小的測針針尖測量

　　如測量內孔的齒腹等情況下，則需要測針針尖*細小。因為這些探針往往安裝在細軸上，所以必須要求極小的穩定測力，才能防止細軸彎曲。VAST 主動探頭對于精密測量則是用細小測針針尖進行測量*理想的解決方案。

　　ZEISS VAST navigator

　　一更高級別的主動掃描

　　ZEISS VAST navigator*技術

　　ZEISS VAST navigator*技術充分利用主動掃描技術潛力。其關鍵要素是自動生成測量方法:系統自動根據測量工件公差要求，在確保所需精度的前提下，以盡可能快的速度進行測量。測量機的加速和減速都獨立進行。想了解更多蔡司三坐標先進技術可致電4001500108