蔡司掃描電鏡原位實驗平臺新品發布會今日召開

 　　在蔡司掃描電鏡原位實驗平臺中自動追蹤到的不銹鋼樣品在力學拉伸過程中微觀組織的變化。

　　當您在運用基于掃描電鏡的拉伸/加熱裝置來實現材料原位表征時：

　　➢ 是否經常在不同電腦上操作電鏡，設置原位臺參數，以及控制EDS/EBSD探測器等一系列工作中疲于奔命?

　　➢ 同時又因為這些裝置協作不好而難以獲得有效的數據?

　　➢ 還因為各項數據分散、凌亂，無法快速對它們進行系統性的管理與分析?

　　現在，蔡司掃描電鏡原位實驗平臺將使您從復雜、艱難且可靠性低的原位測試實驗中徹底解放出來�？靵砑尤氡敬螘�議，了解更多有關蔡司全自動原位拉伸/加熱解決方案的詳細信息!

　　參與本次會議您將能夠了解

　　✓ 新開發的集成化軟硬件系統;

　　✓ 無人值守的自動化原位實驗工作流程，智能的操作系統允許您定義多個感興趣區域(ROI)，且在整個自動化的實驗過程中始終保持獲得每個ROI的原位數據;

　　✓ 先進的數字圖像關聯技術(DIC)和分析;

　　✓ 高重復性，高精度，高可靠性的數據獲取，和便捷的數據管理。

　　蔡司掃描電鏡原位實驗平臺

　　新品發布網絡研討會

　　時間：2022年3月22日 星期二 14：00-15：00

　　語言：中文

　　主講人：蔡司顯微鏡資深應用專家 高迪

　　碩士畢業于北京工業大學，2017年至今在蔡司顯微鏡部擔任應用技術專家。在電子顯微學及微納加工等相關領域有多年工作和學習經驗，為國內近百余客戶進行了應用培訓和成像演示工作，協助用戶解決SEM及FIB的應用問題。熟悉SEM和FIB在材料科學、化學物理、半導體科學等領域的應用。