行業資訊
蔡司掃描電鏡半導體和電子行業解決方案網絡研討會
誠邀您參加蔡司顯微鏡在半導體和電子行業解決方案系列網絡研討會，與蔡司專家、行業專家和思想領袖溝通交流，了解并解決來自半導體和電子行業的挑戰。
首日將由行業專家分享半導體器件失效分析及表征方面的經驗，以及先進封裝技術的行業趨勢和解決方案，并在當天現場演示在蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM上搭載Kleindiek納米探針的解決方案和能力。
會議第二天將聚焦于蔡司及其合作伙伴針對先進封裝行業的解決方案，并展示如何利用行業領先的X射線顯微鏡平臺進行無損成像，以及如何通過先進的機器學習來提高圖像質量和通量。最后還將在線實時演示蔡司激光雙束技術(LaserFIB)在電子封裝失效分析和開發中的應用。
敬請期待更多行業演講嘉賓，期待您撥冗參加!
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第一天：半導體晶片級分析
時 間：2021年10月14日 星期四 | 下午2點至5點
Dr Yeoh Lai Seng
InfineonBruker元素分析和Kleindiek納米探針在蔡司場發射掃描電鏡(FE-SEM)中的應用
Dr Zhao Si Ping
A*STAR Institute of
Microelectronics先進封裝的失效分析和工藝表征概述
Dr Chuan Wei Chung
ZEISS先進半導體器件的晶片級失效分析
Andreas Rummel &
Dr Andrew Jonathan
Smith
Kleindiek Kleindiek納米探針在蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM上的實況演示和線上研討會
