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            蔡司新型場發射掃描電子顯微鏡滿足亞納米成像

                蔡司展示了其新一代的場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)系列蔡司GeminiSEM。新型蔡司掃描電鏡GeminiSEM 360、460和560專為亞納米成像和輕松分析而量身定制。用戶將受益于電子光學技術的創新和提供更好圖像質量,可用性和靈活性的新型腔室設計,F已推出的ZEISS GeminiSEM 560首次將ZEISS Gemini 3色譜柱推向市場。

              新型蔡司掃描電鏡GeminiSEM系列可提供任何樣品的更多信息,*大程度地減少樣品損壞并防止樣品偽影。這三種型號均采用全新的腔室設計,使研究人員能夠比以前引入更大和更多的樣品,從而使核心設施現在可以在一臺儀器中為更多分析應用提供服務。蔡司雙子座電子光學鏡筒的獨特設計以及大而靈活的新型反應室,可滿足所有成像和分析需求。較大的腔室可實現可配置性和靈活性,以適應即將到來的研究任務并優化分析工作流程。

            場發射掃描電鏡

              蔡司掃描電鏡GeminiSEM系列,場發射SEM,可滿足亞納米成像,分析和樣品靈活性的*高要求。

              新型電子光學柱和智能自動駕駛儀

              蔡司掃描電鏡GeminiSEM 560設定了表面成像的新標準。引入了帶有納米雙透鏡的新型蔡司Gemini 3電子光學器件及其新型電子光學引擎Smart Autopilot,該器件經過定制,可在以高分辨率對*敏感的樣品成像時易于使用。在蔡司GeminiSEM系列產品中,560型在所有工作條件下均能提供*高的分辨率,并在著陸能量低于1 kV時突破了浸沒和無單色表面成像的JI限。

              在低著陸能量下,可視化的非導電礦物蒙脫土的斷裂面上的納米級特征,蔡司GeminiSEM 560,Inlens SE圖像,800 V,比例尺為200 nm。

              新的光學引擎結合了新的自動功能和獲得專利的自動對焦功能,大大地提高了系統的性能和效率。在核心設施中,即使沒有新手用戶也可以在沒有首席技術員或設施經理支持的情況下獲得*佳結果。

              成像和分析的更高效率和易用性

              該系統可以輕松地從標準設置過渡到高級設置。新的概覽模式簡化了樣品的定向。用戶可以輕松地從低放大率導航到高放大率,而無需調整列的對齊方式。該系統可提供同類產品中*大的無失真視場。這樣就可以對大型的,具有挑戰性的樣品進行成像,例如材料研究中的磁性樣品。改進后的自動功能是目前世界上*快的,其自動對焦功能可在不到一秒鐘的時間內提供聚焦圖像。

              磁性鐵錳納米顆粒,其中一個長方體顆粒的邊緣長度約為25 nm,在低加速電壓下成像,蔡司GeminiSEM 560,Inlens SE圖像,1 kV,比例尺60 nm。

              蔡司顯微鏡解決方案主管Michael Albiez博士說:“此產品的發布重新定義了高端FESEM成像,推動了業界領先的Gemini光學器件的發展,并將這種能力掌握在客戶手中,從而實現了科學突破!

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