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            X射線顯微鏡

            ZEISS Xradia Context microCT

                蔡司Xradia Context是一種大視場,非破壞性3D X射線微型計算機斷層掃描系統。 借助強大的平臺和靈活的軟件控制源/探測器定位,您可以在完整的3D環境中對大型,重型(25

            商品詳情

                蔡司Xradia Context是一種大視場,非破壞性3D X射線微型計算機斷層掃描系統。 借助強大的平臺和靈活的軟件控制源/探測器定位,您可以在完整的3D環境中對大型,重型(25 kg)和高樣本進行成像,以及具有高分辨率和細節的小樣本。

              獲取完整的電子元件,大型原材料樣品或生物樣品的3D數據。

              執行非破壞性故障分析,以識別內部缺陷,而無需切割樣品或工件

              表征和量化材料中的性能定義異質性,如孔隙率,裂縫,夾雜物,缺陷或多相。

              通過非原位處理或原位樣品操作進行4D進化研究。

              連接到蔡司相關顯微鏡環境并執行非破壞性3D成像,以識別感興趣的區域,用于隨后的高分辨率2D或3D電子顯微鏡成像。

              全方位三維成像

              

              高像素密度探測器(六百萬像素)使您能夠在完整的3D環境中解析精細細節,即使在相對較大的成像體積內也是如此。 或者使用小樣本*大化幾何放大率,以識別和表征具有高對比度和清晰度的微米級結構。 快速的樣品安裝和校準,簡化的采集工作流程,快速曝光時間和數據重建以及可選的自動加載器系統使Xradia Context成為高吞吐量的主力,可滿足各種3D成像和表征需求。

              基于成熟的xradia平臺

              

              Xradia Context建立在經過時間考驗和備受推崇的Xradia技術之上,在現場反復證明可提供一致可靠的系統穩定性,圖像質量和可用性。 用戶友好的Scout-and-Scan控制系統為您提供高效的工作流程環境。 使用Autoloader擴展您的系統,自動處理和順序掃描多達14個樣品。 或者進行4D研究以測量在不同條件下材料微觀結構的變化。

              可轉換為X射線顯微鏡(XRM)

              

              隨著您的成像需求的發展,您的儀器也應如此。 Xradia Context現在加入了蔡司X射線成像產品組合,受益于蔡司不斷致力于擴展其現場系統的功能和功能。 并且提供有保障的投資保護,您的Xradia Context microCT是唯一可以隨時轉換為蔡司Xradia 5XX Versa 3D X射線顯微鏡(XRM)的microCT,該儀器為實驗室X射線成像樹立了新標準 其高工作距離(RaaD)技術的高分辨率和先進的采集和對比方法。

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